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石墨制品的杂质含测量的物理分析方法主要包含以下几种：
一、X射线荧光光谱法（XRF）
    X射线荧光光谱法是一种常用的物理分析方法，它运用X射线照耀样品，使样品中的元素激宣告特征荧光X射线。通过测量这些荧光X射线的能量和强度，可以确认样品中元素的种类和含量。这种方法具有非破坏性、分析速度快、操作简洁等长处，适用于多种元素的快速测定。在石墨制品的杂质含测量分析中，XRF法可以用于测定铁（Fe）、硅（Si）、铝（Al）、钙（Ca）、钛（Ti）等多种杂质元素的含量。
二、扫描电子显微镜（SEM）与能谱分析仪（EDS）联用
    扫描电子显微镜可以调查石墨样品的微观描画，而能谱分析仪则可以分析样品外表的元素组成和含量。通过SEM与EDS的联用，可以明晰地展现石墨颗粒的描画和杂质元素的分布情况。这种方法对于了解石墨制品中杂质的分布和形状具有重要意义，有助于评估杂质对石墨功能的影响。
三、激光粒度分析仪
    激光粒度分析仪是一种用于测定颗粒粒径分布的仪器。在石墨制品的杂质含测量分析中，激光粒度分析仪可以用于测定石墨粉末中杂质的粒径分布。通过测量不同粒径颗粒的数量和比例，可以了解杂质颗粒的巨细分布情况，然后评估杂质对石墨制品功能的影响。
四、其他物理分析方法
    除了上述方法外，还有一些其他物理分析方法也可以用于石墨制品杂质含量的测定，如中子活化分析法、穆斯堡尔谱法等。这些方法各有特点，适用于不同种类和含量的杂质测定。例如，中子活化分析法可以通过测量样品中元素对中子的吸收和反响来测定元素的含量，具有灵敏度高、准确性好的长处。
注意事项
    在进行物理分析时，应确保所运用的仪器和设备通过校准和验证，以确保测量效果的准确性和可靠性。
    样品制备和处理进程对测量效果有很大影响，因此应严格按照相关标准或方法进行样品制备和处理。
    不同的石墨制品可能含有不同的杂质元素和含量，因此应根据详细情况选择适宜的测定方法和标准。
    综上所述，石墨制品的杂质含测量的物理分析方法多种多样，详细选择哪种方法取决于待测元素的种类、含量以及试验条件等要素。在实际运用中，应归纳考虑各种要素，选择最适合的测定方法。